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 WaveSensor波前传感器采用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成,配备专业的操作分析软件。可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检测、介质扰动对光束质量影响的检测、大型球面镜镜面面型精度的检测等。WaveSensor波前传感器可获得丰富的光束质量及空间、时间信息,是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段。

 

应用范围

常规光学元件面型检测

 

大口径光学元件检测

 

大型球面镜镜面面型精度的检测

 

光学系统像差检测

 

激光输出波面检测

 

激光光束质量及其动态变化的诊断

 

介质扰动对光束质量影响的检测

 

自适应系统的波前探测

产品型号和技术规格:

产品型号

WaveSensor®150

WaveSensor®100

WaveSensor®80

WaveSensor®60

孔径尺寸

15mm×15mm

15mm×15mm

6.6mmx8.8 mm

4.8mmx6.4 mm

阵列透镜数

138×138

100×100

60 x 80

45 x 60

动态范围

2000 λ

> 1500 λ

> 1000 λ

> 800 λ

倾斜测量灵敏度

< 1μrad

< 1μrad

< 1μrad

< 1μrad

绝对精度(RMS)

< λ/20

< λ/20

< λ/20

< λ/20

重复性(RMS)

< λ/200

< λ/200

< λ/200

< λ/200

波长

405-1100nm(可扩展至350nm

接口类型

IEEE1394B

产品尺寸

74 mm×100 mm×144 mm

产品重量

1000 g

1000 g

800 g

800 g

 

 

 

 

 

 

 

 



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